| 商品名称 | 商品规格 |
| 高压开关测试仪 | 0|3|断路器试验|测量断路器分合时间,速度是否合格|无记录装置|杭州西湖电子研究所|ECT-5C |
| 霍尔量测仪(旧) | 0|3|用来测量晶圆生长后的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数|利用范德堡法则来测量晶圆生长后的霍尔系数等参数|带记录装置|无品牌,生产厂商:Nanometrics|HL5500PC |
| 集成电路测试机(旧) | 测试集成电路信号|测试集成电路信号|不带记录装置|TE |
| 集成电路测试机 | 测试集成电路芯片用|测试数字集成电路中芯片的电压值,电流值及 |
| 集成电路晶圆电参数测试仪 | 测量电参数;见备注;带记录装置;Advantest牌;T5830型 |
| 集成电路晶圆电参数测试仪 | 备注;备注;带记录装置;NEXTEST牌;Magnum2SVCA型 |
| 集成电路晶圆电参数测试仪 | 备注备注;备注;带记录装置;Advantest牌;T5830型 |
| 量测单元 | 输出电压,电流,信号并进行量测|测量单位|不带记录装置 |
| 芯片测试仪 | 备注测试芯片;电性参数测试;是;KEYSIGHT;4082F |
| 绝缘电压测试机 | 带记录装置;MIYAKE牌;IBDD0510Z |
| 移动终端核心芯片测试系统 | 用于测试混合电路芯片|用于SOC单芯片的功能测试,对数 |
| 移动终端核心芯片探针系统 | 用于为集成电路测试仪器提供电源,并对测试头进行定位|对 |
| 硅片检测仪(旧) | 4|3|单晶硅片表面颗粒测量|测量单晶硅片的颗粒大小及数量|带记录装置|ADE牌|WIS-CR80|无GTIN|无CAS|无需报 |
| 硅片检测仪(旧) | 4|3|提供的多手段自动检测和分选|检测4-8英寸硅片厚度、平整度、翘曲度、弯曲度、电阻率等几何参数|带记录装置|ADE牌|8300|无GTIN|无CAS|无需报 |
| 硅片检测仪(旧) | 4|3|提供的多手段自动检测和分选|检测4-8英寸硅片厚度、平整度、翘曲度、弯曲度、电阻率等几何参数|带记录装置|ADE牌|7000|无GTIN|无CAS|无需报 |
| 直流电测试机 | 带记录装置;MIYAKE牌;SMDD2001Z |
| 电阻率检测仪(旧) | 4|3|用来检测硅片电阻率|硅片电阻率检测功能|带记录装置|KLA-Tencor牌|SPC01/02|无GTIN|无CAS|己使用14年,还能使用10年,原价USD20500/台,残值10% |
| 电源管理IC测试机 | TR6800 |
| 测试机台 | 测试|测试IC功能的机台|不带记录装置|无牌|无型号| |
| 模拟阳光测量仪 | 用于测量多晶硅电池片电性参数|模拟阳光对多晶硅电池片进行 |
| 晶体管图示仪 | |
| 晶体测试仪 | 测量器件的各种特性曲线|测量器件的静态参数|不带记录装 |
| 太阳能板半自动点测机(旧) | 4|3|测试每颗LED光电性|wafer经切割、劈裂、扩张,点测机设备提供影像定位储存、自动针测,再由测试机仪器通过LED加电检测其光电性,测试后产生档案于系统中|不带记录装置|Chroma|58173,于2014-12-29造,原价1,300,000台币可使用120月,已使用37月,还可使用83月,残值率10% |
| 太阳能板半自动点测机(旧) | 4|3|测试每颗LED光电性|wafer经切割、劈裂、扩张,点测机设备提供影像定位储存、自动针测,再由测试机仪器通过LED加电检测其光电性,测试后产生档案于系统中|不带记录装置|Chroma|58173,于2013-9-16造,原价1,501,000台币可使用120月,已使用53月,还可使用67月,残值率10% |
| 多晶硅电池片转换效率检测与分 | 用于测量多晶硅电池片转换效率并进行分类|测量多晶硅电池片转 |
| 变压器自动测试仪 | 4|3|电气特性测试用|特性测试|带记录装置|无牌|ZX2786A型|||7成新生产日期:2015-3-15生产厂商:常州市致新精密电子有限公司 |
| 半自动晶粒点测机(旧) | 4|3|测试每颗LED光电性|点测机设备提供晶粒的影像定位储存、自动针测,再由测试机仪器通过LED进行加电检测其光电性,测试后产生档案于系统中|不带记录装置|旺硅|3GPlus-VB220,于2010-7-20造,原价1,180,000台币可使用120月,已使用91月,还可使用29月,残值率10% |
| 半自动晶粒点测机(旧) | 4|3|测试每颗LED光电性|点测机设备提供晶粒的影像定位储存、自动针测,再由测试机仪器通过LED进行加电检测其光电性,测试后产生档案于系统中|不带记录装置|旺硅|3GPlus-VB220,于2010-6-18造,原价1,180,000台币可使用120月,已使用92月,还可使用28月,残值率10% |
| 半自动晶粒点测机(旧) | 4|3|测试每颗LED光电性|点测机设备提供晶粒的影像定位储存、自动针测,再由测试机仪器通过LED进行加电检测其光电性,测试后产生档案于系统中|不带记录装置|旺硅|3GPlus-VB220,于2010-5-18造,原价1,180,000台币可使用120月,已使用93月,还可使用27月,残值率10% |
| 半自动晶粒点测机(旧) | 4|3|测试每颗LED光电性|点测机设备提供晶粒的影像定位储存、自动针测,再由测试机仪器通过LED进行加电检测其光电性,测试后产生档案于系统中|不带记录装置|旺硅|3GPlus-VB220,于2010-1-29造,原价1,180,000台币可使用120月,已使用96月,还可使用24月,残值率10% |
| 半自动晶粒点测机(旧) | 4|3|测试每颗LED光电性|点测机设备提供晶粒的影像定位储存、自动针测,再由测试机仪器通过LED进行加电检测其光电性,产生档案于系统中|不带记录装置|旺硅|3GPlus-VB220,于2009-12-30,2010-1-13/19造,原价1,180,000台币可使用120月,已使用97月,还可使用23月,残值率10% |
| 半导体晶片自动测试仪(旧) | 在制造半导体器件工艺中,用于检测半导体晶片|检测半导体 |
| 半导体器件直流测试系统 | 1|3|测试半导体器件的开关时间、反向恢复时间和电流短路等参数|将测试出的模拟信号结果转成数据信号,发送给分选机,分选机自动进行器件品质的分类,与半导体器件分选机配合使用,自身不具备分选功能,同时测试系统将测试的数据进行存储。|带有记录装置|QuickTest牌|QT-4100A |
| 半导体器件直流测试系统 | QT-4100A,Powertech牌,测试直流电气特性 |
| 半导体器件电感负载量测试系统 | 1|3|用于测试半导体器件对电感能量所能负载的极限|利用测试仪中的电感圈达到一定额定量后,将这些能量释放到被测的器件上。从器件被电感冲击后的电特性反应,便能测试出其对电感负载量的极限|带有记录装置|宏邦牌|T333A |
| 半导体器件热电阻测试系统 | 1|3|用于测试半导体器件瞬态电阻特性|依据半导体器件PN结在指定电流下两端的电压随温度变化而变化的原理,|带有记录装置|宏邦牌|T322B |
| 半导体器件分析仪(半导体专用,电参量测量) | 境外品牌(其他)带记录装置;KEYSIGHT;B1500A |
| 功能测试机台 | 用于检测线路板|检测线路板合格与否|有带记录装置|wi |
| 分选机(旧) | 4|3|用于太阳能电池片的检验|太阳能电池片功率颜色缺陷分选|带记录装置|DELTA|IV-5400|||原总价:150万人民币生产日期:2013年9月可使用年限:10年,已使用年限:4年,还可使用年限:6年,残值率:38% |
| 全光谱太阳模拟器 | 测试太阳能电池用|模拟检测太阳能电池转换效率功能|带记录装 |
| 光学检测仪 | 编带机用|检测半导体元器件的外观|带记录装置|无牌|无 |
| 交流电测试机 | 带记录装置;MIYAKE牌;DMDD1010Z |
| 互感器综合测试仪 | 0|3|测量互感器伏安特性,变比极性|试验互感器伏安特性,保护用CT的误差曲线,变比和极性判断以及互感器的交流耐压|不带记录装置|保定迅达电气有限公司|BYCC-3168G |
| 三维集成器件异质晶圆探针系统 | 用于为集成电路测试仪器提供电源,并对测试头进行定位|对 |
| TSV工艺晶圆探针系统 | 用于为集成电路测试仪器提供电源,并对测试头进行定位|对 |
| LED高压单晶电性测试机 | 起检测LED发光二极管电性作用|检测LED发光二极管的 |
| IV测试系统 | 测试太阳能电池用|模拟检测太阳能电池填充因子,开路电压,短路 |
| IC晶片测试工具 | 4|3|用于检测晶片质量|检测晶片质量判断芯片是否合格|非带记录装置|QUARCH|QTL1260|无GTIN|无CAS|无其他 |
| 55纳米芯片测试探针台 | 用于为集成电路测试仪器提供电源,并对测试头进行定位|将 |