| 商品编码 | 9012100000 |
| 商品名称 | 非光学显微镜及衍射设备 |
| 申报要素 | 1:品名;2:品牌类型;3:出口享惠情况;4:用途;5:原理;6:品牌（中文或外文名称）;7:型号;8:GTIN;9:CAS;10:其他; |
| 法定单位 | 台 |
| 海关监管条件 | |
检验检疫 | |
| 出口从价关税率 | – |
| 出口退税率 | 13% |
| 商品描述 | 非光学显微镜及衍射设备 |
| 英文名称 | Microscopes other than optical microscopes; and diffraction apparatus |
| 个人行邮(税号) |
申报实例汇总:
| 商品名称 | 商品规格 |
| 钨灯丝扫描电子显微镜 | S-3700N |
| 超高压扫描电子显微镜 | 境外品牌(其他)集成电路制造用;备注;AMAT;Verity5i |
| 电子背散射衍射仪 | ;Nordlys S |
| 电子背射衍射仪 | ;Nordlys S |
| 电子显微镜/用于检测产品 | (Dazor牌SPECK42740X) |
| 电子显微镜(旧) | MZS-0745/深圳宏建产 |
| 电子显微镜 | TM-3000 |
| 热场扫描电子显微镜 | Quanta 650 FEG |
| 最终分析显微镜 | 通过高倍的放大率来观察事物|利用电子束和电子透镜形成对 |
| 显微镜 | (电子的、非光学的) |
| 显微镜 | (SKZ-5) |
| 显微镜 | (非电子的、非光学的) |
| 显微镜 | 0|0|观察液体|光学放大原理|无品牌|无型号 |
| 显微镜 | 检验被测物体的外部和内部组织结构|通过发射电子束给被测 |
| 显微镜 | 用于检验产品|通过CCD数码照相头，把各种观测到的图像 |
| 旧扫描电镜 | 4|3|用来观察物体表面的微观形貌|利用聚焦的非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息，通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察|品牌FEI|型号FP2045/31|无GTIN|无CAS|无其他要素 |
| 旧扫描电镜 | 4|3|用来观察物体表面的微观形貌|设备的灯丝发射电子束，聚焦的电子束射到被测物体表面，激发出二次电子，二次电子被探测器接收到，放大并成像，形成放大的图像，显示被测物体表面的微观形貌|品牌HITACHI|型号S-9380|无需报|无需报|无其他要素 |
| 旧扫描电镜 | 4|3|用来观察物体表面的微观形貌|利用聚焦的非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息，通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察|品牌HITACHI|型号S-4700|无GTIN|无CAS|无其他要素 |
| 旧扫描电镜 | 4|3|用来观察物体表面的微观形貌|利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息，通过这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察|品牌HITACHI|型号S-5000|无需报|无需报|无其他要素 |
| 旧扫描电镜 | 4|3|用来观察物体表面的微观形貌|利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息，通过这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察|品牌JEOL|型号JEM6700F|无需报|无需报|无其他要素 |
| 旧扫描电镜 | 4|3|用来观察物体表面的微观形貌|设备的灯丝发射电子束，聚焦的电子束射到被测物体表面，激发出二次电子，二次电子被探测器接收到，放大并成像，形成放大的图像，显示被测物体表面的微观形貌|品牌HITACHI|型号S-4700|无需报|无需报|无其他要素 |
| 旧扫描电镜 | 4|3|用来观察物体表面的微观形貌|利用聚焦得非常细的高能电子束在式样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受，放大和显示成像，获得测试式样表面形貌的观察|品牌HITACHI|型号FB2000A|无GTIN|无CAS|无其他要素 |
| 扫描电镜（旧） | 用来观察物体表面的微观形貌|通过电子光源，产生电子束并 |
| 扫描电镜(旧) | 4|3|用来观察物体表面的微观形貌|利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接收，放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察|Hitachi|S-4500|无GTIN|无CAS |
| 扫描电子显微镜(旧,2000年产) | 4|3|用来检测半导体光刻生产过程中对芯片特征的量测和形貌分析|利用二次电子成像技术检测半导体光刻生产过程中对芯片特征尺寸的进行量测和形貌分析|HITACHI|S-4700|无GTIN|无CAS|无必报要素 |
| 扫描电子显微镜(旧) | 4|3|半导体检测设备,用来量测硅片晶圆上的线宽|通过场发射电子源对样品进行扫描,采集样品的二次电子后成像,通过对采集的图像进行量测采集数据|HITACHI|S-9380|无GTIN|无CAS|无其他必报要素 |
| 扫描电子显微镜(旧) | 4|3|检测产品及材料|利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息,通过对这些信息的接受,放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察|徕卡|LEO430|无GTIN|无CAS|无必报要素 |
| 扫描电子显微镜(旧) | 4|3|半导体检测设备,用电子扫描晶圆表面,进行测量硅片晶圆上的线宽|通过场发射电子源对样品进行扫描,采集样品的二次电子后成像,通过对采集的图像进行量测采集数据|HITACHI|S-4700|无GTIN|无CAS|无其他必报要素 |
| 扫描电子显微镜(旧) | 4|3|观察固体材料的表面形貌|利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接收、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察|品牌HITACHI|型号S-5500|无GTIN|无CAS|无其他要素 |
| 扫描电子显微镜 | 品牌:PhenomWorld型号:PhenomPro |
| 扫描电子显微镜 | ;依据电子与物质的相互作用;卡尔蔡司;EVO18 |
| 扫描电子显微镜 | 操作演示使用该产品观察固体材料的表面形貌|利用电子束在 |
| 扫描式电子显微镜主机 | (S-3700N) |
| 场发射扫描电子显微镜(旧) | 4|3|操作演示使用该产品观察物体微观形貌|通过电子光源,产生电子柬发射在被测物上,激发样品表面放出二次电子,二次电子被探测装置收集后形成电信号,电信号转化为视觉信号呈现在显示屏上|ZEISS|MERLIN|无需报|无需报|无必报要素 |
| 场发射扫描电子显微镜 | SU-70 |
| 在线扫描电子显微镜 | 25KEBRSystem |
| 原子应力显微镜 | 用途:硬盘表面放大分析用 |
| SEC扫描电子显微镜 | SNE3000M |
| KEYENCE牌电子显微镜 | VE-9800S |
| 3D高清晰度电子扫描显微镜 | VE-9800S,品牌:KEYENCE(基恩士) |
| 3D高清晰度扫描电子显微镜 | VE-9800S,品牌:KEYENCE(基恩士) |